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NFA100

NFA100闪存批量测试系统

NFA100一次可以测试128片Nand Flash,它不仅具备NFA100-E的所有功能,还配备有专用高低温箱,满足用户高低温、湿度以及温度快速冲击测试的需求,NFA100还是一套全自动化的测试设备,它可以自主装卸Nand Flash芯片,还可以根据测试结果自动进行分类、编带包装,避免手工操作所带来的汗水、静电的不良影响,NFA100还具备自动保存所有测试结果、可以远程跟踪和查看测试结果的完整操作系统,除了测试软件具备的测试功能外,利用NFA100的强大功能,还可以帮助用户按照可靠性高低需求不同将Nand Flash分为不同的等级

询价
基本参数购买信息

面向对象

NFA100主要面向以下用户:

1、对Nand Flash参数有高精度需求的用户,精确的参数往往需要通过对足够庞大的样本数量进行测试才能得出结论,少量测试结果不足以代表不同批量的参数,更无法代表一个型号的通用参数,因此,足够多样本的测试对于产品的可靠性和稳定性是非常重要的;同时,Nand Flash在高温和低温环境下的电气性能参数表现与常温下表现差异非常大,只要通过高温和低温的实验,方能对控制器参数留足够的余量。

2、基于某种特殊用途需要对Nand Flash进行大量筛选的用户,固态硬盘通常会有多个Nand Flash颗粒共同组成,而固态硬盘的可靠性不是由最好的闪存颗粒决定,而是由可靠性最差的闪存颗粒决定,因此,筛选出可靠性一致或者最佳可靠性的闪存芯片,是固态硬盘高可靠性的基础。例如:需要将一个批次中可靠性最好的Nand Flash筛选出来,将达不到标准的Nand Flash用于其他用途,NFA100可以通过简单的P/E测试筛选出Nand Flash最真实的寿命(不一定是Datasheet所规定的寿命),用户也可以在高温或者低温环境下进行最佳可靠性的筛选;

3、对操作过程严格要求的客户,需要完全避免手工操作因手上汗水、静电对Nand Flash带来不可预估的影响,从而导致测试结果与实际参数有所偏差。

4、需要异地直接远程操作测试设备,或者需要在集团内部实时分享、查看测试结果,需要对测试结果自动归档的用户。

NFA100简介

NFA100采用分布式架构,即每一个子板上都有基于FPGA的Nand控制器, 因此对于部分测试功能无须占用主机资源,使其操作速度非常快。

Program的throughput的设计spec可以达到: 1GB/s

Read的throughout的设计spec可以达到: 1.5GB/s

NFA100可以支持所有主流厂商1x 纳米的MLC、SLC、TLC以及3D Nand的测试


支持1x纳米及3D Nand的测试


NFA100可以提高最多一次测试128片Nand Flash


Nand Flash批量测试设备


NFA100可以跟Nand Flash原厂一样进行闪存坏块的管理,经过NFA100的管理,闪存在任何主控下都可以被识别到被管理的坏块


NFA100可以自定义4组不同ECC条件的测试,帮助用户判断需要使用多少Bit ECC,还可以设定Program和Erase直接的间隔时间



在做P/E Cycel测试之前,还可以对Page、Block进行测试Pattern的设定,也可以自定义Pattern


Nand Flash 测试Pattern


用户还可以灵活的决定测试哪些Page以及不测试哪些Page



用户还可以自定义脚本进行测试,而使用脚本无需学习任何脚本语言,也不需要学习NFA100复杂的脚本命令,只需要借助NFA100自带的脚本代码生成器就可以自动完成脚本代码的编写,这一切跟填空一样简单


通过脚本测试Nand Flash



NFA100提供了两种不同级别的用户开发平台

 1. API

通过API,各种对NAND Flash的操作及设定,用户都可以通过调用NFA100提供的库程序在自己的软件中方便的实现自己需要的功能。

2.脚本(script)

NFA100提供了一套自己的编程语言,用户可以在NFA100的环境(界面)下执行自定义的script。


NFA100基本功能
可以对Nand Flash发送测试命令


还支持Nand Flash厂商未公开的特殊命令,即:任意命令


Nand Flash任意命令测试


对Nand Flash原始误码率(Raw-Bit Error Rate)、以及不可纠正的误码率进行测试:


原始误码率及不可纠正误码率测试


读、写、擦操作时间的测试,通过此项测试可以将测试结果进行保存和导出,从而清楚的分析出快页Upper page和慢页Lower page的分布:


page操作时间


……


更多的测试功能及远程演示请联络:sales@renice-tech.com

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