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NFA100-E

NFA100-E 闪存测试仪

NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统,它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求,用户还可以通过API和脚本(Script)来扩展任何自定义的测试或分析功能。

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基本参数购买信息

NFA100-E Nand Flash测试

面向对象

NFA100-E主要面向:企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠性研究的研发人员。

技术指标

1、支持最新制程3D Nand Flash,1x nm以及25nm,34nm,56nm制程Nand Flash;

2、支持SLC,MLC,TLC,eMLC;

3、支持8位和16位异步Flash;

4、支持同步,Toggle Flash;

5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk,Hynix厂商所有常规Nand Flash;

6、支持TSOP48,BGA63,BGA100,BGA132,BGA152封装;

7、可以定制开发非常规封装、自定义封装Nand Flash。

性能指标

1、通过USB2.0接口测试设备内部连接工控电脑,计算由测试主板FPGA完成,对工控电脑资源消耗极低,USB2.0仅仅是将计算结果反馈给软件,因此不会对性能产生任何影响;

2、测试效率主要取决于所需要测试Nand Flash的接口性能以及所需测试项目的内容,如:测试P/E cycle,所需时间完全取决于测试Block数量、测试pattern,及Nand Flash接口的性能。

特殊用途
1、测试客户自主开发的BCH ECC或者LDPC强度;

2、测试Read Retry

3、对Nand Flash进行电压拉偏测试;

4、对Nand Flash进行物理烧毁测试;

设备简介
 NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统,它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求。
1. NFA100-E最大限度地提供NAND的各种原始信息。
    对NAND的原始信息只能通过对NAND发送各种命令,同时读取返回的结果来判断,NFA100-E除了可以发送擦除、写入、读取、重置、获取ID等简单的命令外,还能发送诸如set feature/get feature等命令,可以很容易实现Nand Flash的诸如ReadRetry(RR)等方面的测试。
     NFA100还能发送用户自定义的command (1-byte command),可支持于客户的一些特殊测试。
2. 有能力对各种原始信息进行再处理
    NFA100-E有很强的对原始信息的再处理能力,瑞耐斯也可以开发各种算法为客户提供建议或者定制服务。比如坏块扫描和管理、Nand Flash等级筛选等。
    NFA100-E为客户提供了一个完全开放的平台,非常方便客户自行按照自己的需求设计各种测试。

NFA100-E支持所有主流Nand Flash,对于非主流Nand Flash,可以根据客户Datasheet进行添加功能,使之支持。


支持所有主流厂商闪存

NFA100-E支持2D/3D SLC、MLC、TLC

同时,NFA100-E也支持所有主流的封装类型,NFA100-E配备完整的Socket套装,可以满足客户任意封装类型的测试,而无需重新采购Socket


支持各种封装类型


NFA100-E支持同步、异步MLC/SLC/TLC Nand Flash,支持16K page size,支持3D Nand Flash,支持对闪存时钟进行设定,支持Read Retry、MLC转SLC等特殊测试需求:


支持同步、异步闪存测试


NFA100-E提供各种灵活的Pattern的设定方式,支持对Block、page进行各种测试参数,以及自定义测试参数;


支持对page、Block进行各种Pattern的设定


如果这些参数仍不能满足您的特殊测试需求,还可以通过脚本方式来任意定义测试参数,即使通过脚本来测试,您也无需花任何时间和精力学习脚本语言,瑞耐斯NFA100-E脚本生成器会让您填空一样根据您填写的需求自动帮您生成脚本:


Nand Flash测试脚本

脚本生成软件:


NFA100提供了两种不同级别的用户开发平台 


1. API

通过API,各种对NAND Flash的操作及设定,用户都可以通过调用NFA100提供的库程序在自己的软件中方便的实现自己需要的功能。

2.脚本(script)

NFA100提供了一套自己的编程语言,用户可以在NFA100的环境(界面)下执行自定义的script。


主要功能

通过上述的基础设定,您就开始进行您所需要的测试,如坏块扫描和管理:


Nand Flash坏块扫描和管理


对Nand Flash发送各种命令:


对Nand Flash发送命令


进行擦、写、读操作(P/E cycle测试):


P/E Cycle测试


对Nand Flash原始误码率(Raw-Bit Error Rate)、以及不可纠正的误码率进行测试:


原始比特误码率RBER测试


还可以进行数据保存时间(Data Retention)的测试:


数据保存时间Data Retention测试


还可以进行编程干扰(Program Disturb)测试,软件会以图示的形式反映在P/E cycle的影响下,Bit Error和page Error的分布情况:


编程干扰program disturb测试


读、写、擦操作时间的测试,通过此项测试可以将测试结果进行保存和导出,从而清楚的分析出快页Upper page和慢页Lower page的分布:


Nand Flash的快页upper page和慢页lower page测试

NFA100-E与NFA100的区别


 

 NFA100-E

 NFA100

 用途

 主要针对研发工程师设计,可以帮助研发工程师迅速发现并解决Nand Flash设计中遇到的相关问题;

适合科研机构;高校研究;企业研发等用途;

 主要针对量产用途,适合大规模的测试、筛选Nand Flash

 测试数量

 一次最多可以测试4片Nand Flash  一次最多可以测试128片Nand Flash

与电脑接

USB2.0

USB3.0及网口 

NFA100采用分布式架构,即每一个子板(SUB board)上都有NAND controller,
因此对于部分测试功能无须占用主机资源,操作的速度比NFA100-E更快。
写入的设计规格最高: 1GB/s
读取的设计规格最高: 1.5GB/s 

 

 


远程演示及讲解请联络:sales@renice-tech.com  或 

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NFA100-E与NFA100的区别:

 

 NFA100-E

 NFA100

 用途

 主要针对研发工程师设计,可以帮助研发工程师迅速发现并解决Nand Flash设计中遇到的相关问题;

适合科研机构;高校研究;企业研发等用途;

 主要针对量产用途,适合大规模的测试、筛选Nand Flash

 测试数量

 一次最多可以测试4片Nand Flash  一次最多可以测试128片Nand Flash

与电脑接口

USB2.0

USB3.0及网口 

NFA100采用分布式架构,即每一个子板(SUB board)上都有NAND controller,
因此对于部分测试功能无须占用主机资源,操作的速度比NFA100-E更快。
写入的设计规格最高: 1GB/s
读取的设计规格最高: 1.5GB/s 

 

 

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