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用NFA100测试TLC的可靠性

日期:2015-04-02   标签:Nand Flash的可靠性   来源:瑞耐斯技术

可靠性的判断

判断TLC的可靠性可以通过下面两种简单的方法:

1、原始误码率(RBER,Raw-bit Error Rate),如果原始误码率很高,说明其可靠性就很差;

2、操作时间(Operation Time),Block越差,其操作时间就越长;


本次测试的Nand Flash为SK Hynix 8GB TLC,型号为:H27UCG8T2ETR-BC

Page Size=16,384+1664 Bytes

Block Size=256pages x (4M+416K)byte

Plane Size=1024+36 Blocks

NFA100-E Renice Nand Flash 分析仪

测试其原始误码率,一般MLC的原始误码率为10-6左右,而此TLC高达10-3.813

闪存芯片分析仪

然后再看其错误统计,发生大面积的bit反转,说明TLC的可靠性已经非常差

瑞耐斯闪存芯片分析仪

最后看Operation Time,无论是Erase,program还是Read,MLC的操作时间一般只有其1/2

TLC Operation Time

再看一下page program的时间,会发现很多page program的时间非常长,说明这些page状态已经非常不理想

page program time


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