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固态硬盘可靠性解决方案

日期:2014-05-12   标签:固态硬盘可靠性   来源:瑞耐斯技术

面临的问题:

作为数据的载体,固态硬盘的可靠性尤其重要,一旦发生故障可能会导致用户数据的丢失或者系统的崩溃。

固态硬盘的可靠性是综合因素共同作用的结果,如:ECC的强弱,垃圾回收机制,写放大系数的控制,电路设计是否具备过压过流保护,是否具备断电保护机制,是否使用高可靠性Nand Flash及相应规格的电子元器件等等。

对于用户而言,判断固态硬盘可靠性最困难的是:即使一款可靠性并不好的固态硬盘,短期内也很难发现问题,通常只能在使用过程中被动接受丢失数据的现实。

例如:市场上大量低价固态硬盘使用的是good die的Nand Flash甚至是二手的拆机片,这些芯片原始误码率本身就很高,可靠性非常低,主控厂商在设计ECC时往往是按照原装Nand Flash规格进行设计,因此对于误码率非常高的Nand Flash来说,主控ECC很难完成超过设计指标的纠错,硬盘出现故障在所难免,但这种状况通常会发生在用户使用一段时间之后,三个月,半年甚至一年以上(根据客户使用读取为主还是写入为主的场景有较大差异)

原装芯片误码率(10-6.079) VS非原装芯片误码率(10-3.502

原装Nand Flash原生误码率

非原装Nand Flash误码率

商业级Nand Flash(29F16B08CCME2)-45°C和+90°C条件下,原始误码率分别增加25.8%和15.8%(实测)

因此,对于只是在常温下条件下测试的产品,很难保障产品在特殊条件下的可靠性。


瑞耐斯解决方案:

采用真正工业级主控芯片、工业级电子元器件及工业级Nand Flash最为重要,瑞耐斯在总结3000多家全球各个行业应用的基础上自主开发工业级固态硬盘主控芯片,可以确保在不同的环境下,主控都可以稳定的工作。

sata6Gb 主控芯片

瑞耐斯对Nand Flash在上机贴片之前会全部用NFA100(瑞耐斯闪存芯片测试仪)进行分析和测试,筛选出P/E Cycle最长的,误码率最低的Nand Flash用于固态硬盘产品,利用瑞耐斯的闪存芯片分析仪进行筛选,原装的芯片通常最高只有80%的合格率。

NFA100-Nand Flash Analyzer

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